සර්කෝනියා සෙරමික් පර්යේෂණාත්මක

Wonder Garden සර්කෝනියා සෙරමික් සෙන්ටර්-පෝස්ට් කාට්රිජ් සහ ප්‍රමුඛ තරඟකරුවෙකුගේ ලෝහ මධ්‍යස්ථාන-පසු කාට්රිජ් විමර්ශනය සඳහා වොන්ඩර් ගාර්ඩන් විසින් සපයන ලදී.සාම්පලවල කල්පැවැත්ම සහ තාප පිරිහීම අධ්‍යයනය කිරීම සඳහා, Aliovalents ද්‍රව්‍ය පර්යේෂණ මගින් පයික්නොමිතිය, x-ray විවර්තනය, ස්කෑනිං ඉලෙක්ට්‍රෝන අන්වීක්ෂය සහ ශක්ති විසරණ වර්ණාවලීක්ෂය ප්‍රාථමික සිට දිරාපත් වීම දක්වා වෙනස් වන සාම්පල (300 °C සහ 600 °C කොටස හරහා සිදු කරන ලදී). ඉහළම ගුණාත්මක හරස්කඩ සාක්ෂාත් කර ගැනීම සහතික කිරීම සඳහා 200 rpm හි අඩු වේග wafering දියමන්ති කියත් (Allied HighTech, US) භාවිතා කරන දිග.ඉන්පසු සාම්පල අතිධ්වනික ක්ලීනර් තුළ ඩියෝනීකරණය කළ ජලයෙන් සෝදා, පසුව අවසන් වරට අයිසොප්‍රොපැනෝල් සහ ඩීඅයිඩබ්ලිව් සමඟ සෝදා ඇත.පසුව සාම්පල muffle ඌෂ්මක 2ක තබා 300℃ සහ 600℃ වාතයේ තබා ඇත (~නයිට්‍රජන් 78%, ඔක්සිජන් 21%, අනෙකුත් 1%).

මෙම උපාංගවල සාමාන්‍ය ක්‍රියාකාරී උෂ්ණත්වය සාමාන්‍යයෙන් 250 °C සිට 350 °C දක්වා වන අතර උපරිම මෙහෙයුම් උෂ්ණත්වය 450 °C සිට 500 °C දක්වා වේ.එබැවින්, 1.2 හි ආරක්ෂිත සාධකයක් සැලකිල්ලට ගනිමින්, මෙම ද්රව්යය 600 ° C දී ඇගයීමට ලක් විය.පිඟන් මැටි සහ ලෝහ මධ්‍යස්ථාන සඳහා පෞරාණික, 300 °C සහ 600 °C මත චරිතකරණ ක්‍රම සිදු කරන ලදී.

ඝනත්වය මනිනු ලබන්නේ ගුරුමිතික උත්ප්ලාවකතා ක්‍රමය භාවිතා කරමිනි.X-ray විවර්තන (XRD) රටා ලබා ගන්නා ලදී.ස්ඵටික වසම් ප්‍රමාණය ඇස්තමේන්තු කර ඇත්තේ XRD විවර්තන උච්ච වලින් Scherrer සමීකරණය භාවිතා කර සම්පූර්ණ පළල (111) උපරිම උපරිමයෙන් (FWHM) භාවිතා කරමිනි.ඉහළම විභේදන ක්ෂුද්‍ර ව්‍යුහ රූප ලබා ගැනීම සඳහා ඉහළ රික්තකයේදී හරස්කඩ පරිලෝකන ඉලෙක්ට්‍රෝන අන්වීක්ෂය (SEM) සිදු කරන ලදී.ඉහත සඳහන් උෂ්ණත්වයේ දී තවදුරටත් සංයුතියේ වෙනස්කම් සිදු වූයේ දැයි විමර්ශනය කිරීම සඳහා සාම්පලවල මූලද්‍රව්‍ය විශ්ලේෂණය සඳහා බලශක්ති-විසරණ වර්ණාවලීක්ෂය (SEM/EDS) සිදු කරන ලදී.